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    原子吸收分光光度計的干擾及其抑制
      盡管在原子吸收分光光度計在使用中干擾較小,但在某些情況下干擾的問題還是不容忽視,因此必須了解可能產生測量誤差的各種干擾的來源及其抑制方法,按干擾效應產生的原因和性質,可分為五類,即光譜干擾、分子吸收、物理干擾、化學干擾和電離干擾。
      光譜干擾
      這種干擾主要來自原子吸收分光光度計儀器和光源,有時也與共存元素有光,常見的光源干擾有以下四種
      (1)在測定波長附近有單色器不能分離的待測元素的鄰近線,可以用減小狹縫的方法來抑制這種干擾。
      (2)燈內有單色器不能分離的非待測元素的輻射。這主要是由于空心陰極燈內雜質元素較多而造成的,使用純度較高的單元素燈可避免這類干擾。
      (3)燈的輻射中有連續背景輻射。這是由于燈內存在雜質氣體或陰極上有氧化物造成的,可以用更換燈內的惰性氣體或縮小狹縫的寬度等辦法來解決。
      (4)待測元素的分析線與另一元素的吸收線十分接近,以致另一元家也能吸收待測元素的輻射。如果試樣中有這種元素,將得到錯誤結果,可另選側定波長或用化學方法分離干擾元素來解決。
      2、分子吸收
      分子吸收是一種特殊的光潛干擾.在原子蒸氣中存在某些基態分子,其吸收帶與待測元素共振線重疊,使吸光度增加。通常將這種不含待測元素的溶液引起的吸收稱為分子吸收,有時也稱為背景吸收。主要來自以下三個方面:
      (1)火焰氣體的分子吸收:這種情況可用零點扣除的辦法解決。為了盡量減少火焰氣體的吸收.在遠紫外區測定時,可用氬氣(空氣)·氫氣火焰(氬氣用以稀釋助燃氣)。
      (2)試樣中鹽或酸在火焰中的分子吸收:這種情況一般在鹽或酸的濃度較高時出現,可在標準溶液中加入相同濃度的鹽或酸來解決,最好用氚燈背景校正器校正。
      (3)來自火焰本身或火焰中待測元素的輻射:這種干擾在交流放大系統中只增加噪聲,可適當增加燈的電流,以提高輻射強度來改善信噪比。
      3、電離干擾
      電離干擾是由于被測元素的自由原子發生電離,使基態原子數減少,引起吸收信號的降低。電離干擾對低濃度范圍的影響較大,使工作曲線高濃度范圍向吸光度軸彎曲。被測元素的電離電位越低,原子化溫度越高時.電離干擾越嚴重。因此,原子吸收法測定堿金屬和堿土金屬時.在通常的火焰條件下.必須設法消除這類干擾。其辦法是加入易電離的元素增加火焰中的自由電子濃度,以有效地抑制被測元素的電離。常用的消電離劑是堿金屬元素,例如用原子吸收法測鈣時.常加人氯化鉀作為消電離劑。
      物理干擾
      由于溶質和溶劑的性質發生變化,使噴霧效率或待測元素噴入火焰的速度發生改變.因而影響吸光度。溶液或酸的濃度較高時,一般會使噴霧效率降低,以致使火焰中原子的濃度減小,從而使吸光度減小。通常.使標準與試樣的基體組成一致,可以防止這種干擾,也可以使用標準加入法來消除這種干擾。
      化學干擾
      化學干擾是指試液中或氣相中被測元素與其他組分間的化學反應對被測元素原子化的影響,引起吸光度降低的效應。這類干擾往往是原子吸收分光光度計的主要干擾來源。引起化學干擾的原因是待測元素不能從它的化合物中全部解離出來,典型的化學干擾是待測元素與共存物質作用生成難揮發的化合物,致使參與吸收的基態原子數減少。有的是在火焰中容易生成難揮發的氧化物,例如鋁、硅、硼、鈣和鋇等。
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